2023年4月21-24日,第十二屆中國顆粒大會(huì)在??隰斈芟栴D酒店成功舉辦,本次會(huì)議是顆粒學(xué)領(lǐng)域綜合性學(xué)術(shù)年會(huì),吸引了來自全國高校、科研院所、企事業(yè)單位的2000余名科技工作者參加,80余家單位參展。大會(huì)以“創(chuàng)新助力雙碳,綠色賦能發(fā)展"為主題,邀請了馬光輝、郭烈錦、余艾冰等院士作特邀報(bào)告,圍繞顆粒學(xué)相關(guān)領(lǐng)域的科研進(jìn)展、產(chǎn)業(yè)發(fā)展趨勢等展開交流。
澳譜特科技專家劉偉教授應(yīng)邀作了關(guān)于“動(dòng)態(tài)光散射納米顆粒粒度測量方法進(jìn)展"的主題報(bào)告,從“自動(dòng)過濾受灰塵干擾的散射光、相關(guān)函數(shù)的截取方式、背散射法測量高濃度樣品粒度和退偏振動(dòng)態(tài)光散射法棒狀顆粒測量"等四方面分享了最新研究成果。
2023年,澳譜特科技相繼推出Zetatronix 939SZ多角度納米粒度及Zeta電位分析儀,以及MorphoVIEW MIP380靜態(tài)圖像粒度粒形分析儀。Zetatronix 939SZ從多個(gè)不同的散射角進(jìn)行光強(qiáng)自相關(guān)函數(shù)的測量,可以獲得更多的粒度信息,并將其結(jié)合到一個(gè)數(shù)據(jù)分析中反演顆粒粒度分布,進(jìn)而提高粒度分布的準(zhǔn)確性。MorphoVIEW MIP380 靜態(tài)圖像粒度粒形分析儀基于顯微鏡結(jié)構(gòu),不僅能獲取粒度參數(shù),還能提供粒形參數(shù),全維度展示顆粒特性。
第十二屆顆粒大會(huì)在??趫A滿落幕,但未來之路任重而道遠(yuǎn),澳譜特科技將會(huì)持續(xù)不斷加大研發(fā)投入,提升技術(shù)水平,為中國顆粒學(xué)事業(yè)的發(fā)展貢獻(xiàn)一份力量。
2024嘉善年會(huì)再相聚!
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